隨著納米技術的不斷發(fā)展，碳納米管和石墨烯的性能越來越受到科學家的關注。然而，對于碳納米管和石墨烯性能表征一直是困擾碳納米管和石墨烯技術研究和應該的主要障礙。目前，碳納米管和石墨烯測量方法是光譜測量技術。相對其他測量方法，該技術主要有以下的優(yōu)點： 
      石墨烯性能表征系統(tǒng)的優(yōu)點

      1、較高靈敏度，即使碳納米管和石墨烯的含量很低也能精確測量。
      2、較高測量精度，對碳納米管的（nm）分辨率很高。
      3、對待測樣品要求低，可直接分析含較多雜質的樣品。
      4、測量設備相對簡單，準備待測樣品非常容易。
      5、數據處理簡單，測量結果無需考慮背景減除。

     對于碳納米管和石墨烯的表征，雖然光譜測量技術有很大的優(yōu)點，但是由于沒有一套系統(tǒng)是專門針對研究碳納米管和石墨烯而設計的，所以測量過程還是有些問題，如獲取數據速度太慢，測量靈敏度不是很高，手工處理數據非常繁瑣且容易出錯等等。世界著名的碳納米管專家美國萊斯大學的R. Bruce Weisman和Sergei M. Bachilo教授針對這些問題開發(fā)了碳納米管的測量系統(tǒng)NS3。使得NS3系統(tǒng)成為目前世界上*的碳納米管和石墨烯測量系統(tǒng)，可對碳納米管和石墨烯進行吸收、熒光和拉曼光譜測量。 
           

           Nano Spectralyzer (NS3)系統(tǒng)  NS3上的測量結果：碳納米管的近紅外發(fā)射光譜